International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (1996 : Boston, Mass.) Konferenz oder Veranstaltung
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URI https://d-nb.info/gnd/5205327-1
EntitätstypKonferenz oder Veranstaltung
GND-Nummer5205327-1
LändercodeUSA 
Veranstaltungsdaten1996
VeranstaltungsortBoston, Mass. 
Vorherige Konferenz oder VeranstaltungInternational Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (1995 : Lafayette, La.) 
Varianter NameDFT (1996 : Boston, Mass.) | International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (1996 : Boston, Mass.) | IEEE International Workshop on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (1996 : Boston, Mass.)
Siehe auchDeutsche Nationalbibliothek (DNB) Deutsche Nationalbibliothek (DNB) | Virtual International Authority File (VIAF) Virtual International Authority File (VIAF)

Datenquelle: DNB Linked-Data-Service (RDF/XML, Turtle) | CC0

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